GB/T 39560.5-2021 电子电气产品中某些物质的测定 第5部分：AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物和电子件中镉、铅、铬以及金属中镉、铅的含量

本部分（本文件，如按2020）描述了AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中铅、镉和铬的方法。 本部分规定了电子电气产品中镉（Cd）、铅（Pb）和铬（Cr）含量的测定。它涵盖了三种类型的基体：聚合物/聚合物组件、金属及合金和电子件。　　 本部分中的样品是指处理和检测的对象。样品及其获得方式由实施检测的机构确定。为检测电子产品中限用物质的含量，如何从中获得其代表性样品的进一步指南见IEC 62321-2。样品的选择和/或测定可能影响对检测结果的解释。　 本部分规定了电子电气产品中镉（Cd）、铅（Pb）和铬（Cr）含量的测定方法，介绍了四种仪器的检测方法（AAS、AFS、ICP-OES、ICP-MS）以及几种样品化学前处理方法（样品溶液的制备），可以从中选择最合适的方法。 由于聚合物和电子件中的六价铬有时难以测定，本部分描述了除AFS以外的聚合物和电子件中铬的筛选方法。铬的分析能提供材料中是否存在六价铬的信息。然而，元素分析不能选择性地测定六价铬，它测定的是样品中的总铬含量。如果总铬含量超过六价铬的限量，则应进行六价铬的确证检测。 本部分所述的ICP-OES和AAS法在测定含量高于10 mg/kg Pb、Cd和Cr；或者ICP-MS法测定高于0.1 mg/kg的Pb、Cd；或者AFS法测定高于10 mg/kg的Pb，高于1.5 mg/kg的Cd时，可获得最好的准确度和精密度。这些方法也可以测试更高含量的样品。　　 因为材料稳定性的关系，本部分不适用于含多氟聚合物的样品。如果在分析过程中使用硫酸，则存在Pb损失的风险，从而会得到错误的偏低的分析值。此外，因为可能干扰Cd的还原，硫酸和氢氟酸不适合于原子荧光光谱法测定Cd。 样品的溶解过程存在局限性和风险，例如可能发生目标物或其他元素的沉淀，在这种情况下，残留物必须单独检查或用其他方法溶解，然后与测试样品溶液合并。

英文名称：  Determination of certain substances in electrical and electronic products—Part 5:Cadmium,lead and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in metals by AAS,AFS,ICP-OES and ICP-MS 中标分类：  电子元器件与信息技术>>电子元件>>L10电子元件综合  ICS分类：  31.020;71.040.50 采标情况：  IEC 62321-5:2013 发布部门：  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布日期：  2021-10-11 实施日期：  2022-05-01 提出单位：  全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会(SAC/TC 297) 归口单位：  全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会(SAC/TC 297) 起草单位：  中国电子技术标准化研究院、深圳赛西信息技术有限公司、兰州三维大数据标准化研究院有限公司、上海华测品标检测技术有限公司、中国家用电器研究院、山东省产品质量检验研究院、无锡海关机电产品及车辆检测中心、岛津企业管理(中国)有限公司、赛默飞世尔科技(中国)有限公司等 起草人：  程涛、高坚、张军华、陈冬梅、邢卫兵、陈凯敏、曹焱鑫、周加彦、赵佳胤、刘丹、叶润、梁丹、司菲斐、姜涛、陈建国、卢春阳、周明辉、胡盛文、余淑媛、吴宇、印美娟 页数：  36页 出版社：  中国标准出版社 出版日期：  2021-10-01

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